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高分辨率、準確性、重現性的分析結果

顆粒粒度測量技術在過去的幾十年里得到了長足的發展，其中一個*重要的貢獻，是在這一領域中應用了激光技術，同時也運用了現代光電探測器和數字電腦處理技術。一段時間以來，激光散射技術的進展使分析速度更快，但是往往由于檢測器的不足，使所獲得的測量數據受到很大的限制。

美國麥克儀器公司認識到需要有更好的檢測能力的檢測器，所以針對性地研發出了采用激光二極管和一個現代化的電荷耦合器件（CCD）檢測器相結合的激光散射儀器。

• 采用航天級的電荷耦合器CCD檢測器保證儀器獲得極高的分辨率和**的數字化散射圖樣，以獲得極高重復性的結果

• 真正的全自動分析儀，確保*快的分析速度

• 全Mie理論，消除了軟件修正帶來的誤差

• 可以完全區分粒徑相差10%甚至更小的顆粒

• 完整的軟件輸出報告

• 符合美國FDA21 CFR Part 11要求的軟件

• 可選自動進樣器等多種配件完全符合ASTM D4464、ASTM C1070、ASTM B822、ISO 13320等國際標準

• 粒度測試范圍：0.04~2500μm，內置高效分散器

• 極小的死體積，保證樣品的均勻性

• **輸出功率達9mW的固體半導體激光器