上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀（配國產顯微鏡）

【產品介紹】

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖。

上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀（配國產顯微鏡）

【主要技術參數】