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• 比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結(jié)構(gòu)的重要參數(shù)之一，*常用、*可靠的方法是靜態(tài)容量法氣體吸附。JW-BK基礎(chǔ)型系列全自動比表面及孔徑分析儀即能準(zhǔn)確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問題，根據(jù)測試功能不同可區(qū)分為JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三種型號，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr壓力傳感器，配合二級吸附泵技術(shù)，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔徑分布需求。
  　　低溫條件下（液氮或液氬等），在密閉的真空系統(tǒng)中，改變吸附質(zhì)氣體壓力，通過高精密壓力傳感器測量出樣品吸附氣體分子前后的壓力變化值，進(jìn)而計(jì)算出氣體吸附量，描繪出等溫吸脫附曲線，應(yīng)用各種物理分析模型進(jìn)行比表面積及孔隙度分析。

孔徑范圍：0.35nm-500nm

比表面范圍：0.0005㎡/g-無上限

孔徑重復(fù)精度：≤0.02nm

比表面重復(fù)精度：≤±1%