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主要特點：

　　PI-85 SEM PicoIndenter®是可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一個深度控制納米力學檢測儀系統。通過這個系統能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術能讓研究人員非常精確地定位探頭并且使用SEM圖像記錄測試中材料的整個變形過程。

　　行業應用：材料、生物、化學、物理相關的政府檢測機構、科研院所、高校和大型企業研究機構。