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概述：  

TSM超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器，用于測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機(jī)，計(jì)算機(jī)和打印機(jī)，儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)量時(shí)間短，操作軟件良好的人機(jī)對(duì)話界面等優(yōu)點(diǎn)。可廣泛用于電子，光學(xué)，化工，醫(yī)藥等行業(yè)測(cè)量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測(cè)顆粒的粒度分布和累積分布的測(cè)量結(jié)果，以及D₃₂， Dv₅₀等多種平均粒徑和比表面積。  

主機(jī)內(nèi)包括光源，光學(xué)系統(tǒng)，測(cè)量樣品池，光電信號(hào)轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng)，A/D數(shù)據(jù)采集卡等。主機(jī)輸出信號(hào)通過(guò)USB電纜與計(jì)算機(jī)的USB口相連接，計(jì)算機(jī)對(duì)主機(jī)測(cè)量進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理，并打印輸出結(jié)果。

技術(shù)特點(diǎn)：  

1、大功率白色光源  

2、采用進(jìn)口美國(guó)海洋光學(xué)光譜接收器  

3、集多年研究之成果，獨(dú)特消光理論的**應(yīng)用  

4、獨(dú)特反演算法，保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確  

5、USB接口，儀器與計(jì)算機(jī)一體設(shè)備，10.8寸觸摸屏，直接顯示數(shù)據(jù)與粒徑分布，可連接U盤(pán)、打印機(jī)、鼠標(biāo)等。  

6、微量固定樣品池，超高感應(yīng)靈敏度，僅需少量樣品  

7、軟件個(gè)性化，提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ埽奖阌脩舨僮鳎?/span>  

8、測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析，與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；  

9、儀器造型美觀，體積小重量輕；  

10、測(cè)量精度高，重復(fù)性好，測(cè)量時(shí)間短；  

11、軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測(cè)顆粒折射率要求；  

12、考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理；  

技術(shù)參數(shù)：  

工作條件：  

1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃  

2.相對(duì)溫度：不大于85%（無(wú)冷凝）  

3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。  

4.由于在微量級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量，儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。  

5.儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。  

6.設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。  

7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。  

工作原理：
消光法(Extinction)是光散射顆粒測(cè)量技術(shù)中的一種，又稱濁度法(Turbidimetry)。  

消光法的原理簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，對(duì)儀器設(shè)備的要求較低，測(cè)量范圍相對(duì)較寬，下限為數(shù)十個(gè)納米，上限約10mm左右，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好，測(cè)量速度快。因此，該方法不僅在膠體化學(xué)，高分子化學(xué)以及分析化學(xué)等實(shí)驗(yàn)室分析中得到了廣泛應(yīng)用，還在在線測(cè)量中得到越來(lái)越多的應(yīng)用，如對(duì)高分子聚合過(guò)程的測(cè)量和監(jiān)控，內(nèi)燃機(jī)排氣中固體微粒粒徑的測(cè)量，大型火力發(fā)電廠和原子能電廠中蒸汽濕度和水滴直徑的測(cè)量，煙塵排放濃度的監(jiān)控等。  

消光法的測(cè)量原理如圖1所示。如果一束直徑遠(yuǎn)大于被測(cè)顆粒粒徑、強(qiáng)度為I0、波長(zhǎng)為λ的平行單色光入射到一含有被測(cè)顆粒群的介質(zhì)時(shí)，由于顆粒對(duì)光的散射和吸收作用，光的強(qiáng)度將受到衰減