粉體行業在線展覽
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光譜 SiC外延體相表相無損缺陷分析
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上海英生電子科技有限公司
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光譜 SiC外延體相表相無損缺陷分析
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July 04, 2023 – 微波探測空間分辨率低，僅為mm級別，無法獲得載流子壽命精確分布成像。采用全新瞬態吸收光譜成像技術，利用高速相機實現載流子衰減動力學的成像，無需掃描樣品！檢測速度大幅提升
Formulatrix Tempest分液儀
Formulatrix Mantis微孔板分液儀
超快熒光上轉換光譜系統
激光掃描熒光壽命（強度）成像系統
AM1.5雙燈源連續型太陽光模擬器
Livestrong鈣鈦礦疊層電池量子效率測量儀
B320 電化學反應可視化共焦系統
MIA-5M材料阻抗分析儀
鐵電體材料測試系統
超快瞬態吸收光譜系統
超快瞬態吸收顯微鏡系統
正電子湮沒壽命譜儀
2830 ZT
ON-p
EMIA-Pro
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K-365
CPG2/CPG2S
HL-N20
TrueX系列（手持式）
在線銅離子含量分析儀
Metorex C100
SUPEC 7020
A-380
