粉體行業在線展覽
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JEM-3200FS
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捷歐路（北京）科貿有限公司
面議
JEM-3200FS
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JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡
JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了**加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
JMS-Q1600GC UltraQuad? SQ-Zeta 氣相色譜-四極桿質譜儀
JMS-T100LP AccuTOF? LC-Express 飛行時間質譜儀
JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 高性能氣相色譜飛行時間質譜儀
JMS-S3000 SpiralTOF?-plus 2.0 基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀
JSM-IT500HR
JSM-7900F
JSM-7610FPlus
JSM-IT200 InTouchScope?
JCM-7000 NeoScope?
JSM-F100
JSX-1000S
JEM-ARM300F GRAND ARM
YH MIP-0103型
LiteScope
P100
OPTM series
AFM5500M
Nanonics MV2500
53X-C
JEM-ARM200F NEOARM
QDAFM
牛津儀器原子力顯微鏡
AFM5500M
