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產(chǎn)品概述

FLEX是CRAIC中兼具全能性和靈活性配置的儀器，它用光復(fù)用器Lightswitch把紫外-可見-近紅外光學(xué)器件，分光光度計(jì)數(shù)字成像及軟件都結(jié)合到一起。通過Lightswitch技術(shù)，F(xiàn)LEX保留了大家熟知的CRAIC的易用性，同時(shí)能夠進(jìn)行紫外-可見-近紅外光譜測(cè)量，高分辨顯微成像，折射率測(cè)量等。

以一個(gè)有吸引力的價(jià)格為切入點(diǎn)，F(xiàn)LEX分光光度計(jì)利用測(cè)試技術(shù)來測(cè)量紫外-可見-近紅外范圍的透射，吸收，反射，輻射和熒光微區(qū)光譜。在獲取顯微光譜的同時(shí)，樣品可通過高分辨彩色數(shù)字成像系統(tǒng)或目鏡進(jìn)行成像。附加功能還包括顯微樣品的折射率及色度測(cè)量，及微區(qū)的薄膜厚度測(cè)量。

此外，F(xiàn)LEX分光光度計(jì)在獲得**成像質(zhì)量和光譜的同時(shí)，提供了**吸引力的價(jià)格。 

主要特性

?  紫外-可見-近紅外透射顯微光譜

?  紫外-可見-近紅外透射高分辨成像

?  透射，反射，偏振及熒光顯微分光光度計(jì)

?  透射，反射，偏振及熒光顯微成像

?  拉曼分光光度計(jì)

?  薄膜厚度測(cè)量

?  顯微樣品色度測(cè)量

?  結(jié)合rIQ進(jìn)行折射率測(cè)量

?  配備Lightblades技術(shù)

?  集成TE制冷CCD陣列探測(cè)器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性

?  樣品溫度的精確控制

?  對(duì)樣品上小于一微米區(qū)域的校準(zhǔn)和變量測(cè)量

?  同時(shí)使用目鏡和數(shù)字成像的**成像功能

?  搭配Lambdafire光譜，成像控制及分析軟件。

?  專業(yè)的軟件模塊，包括統(tǒng)計(jì)分析，光譜數(shù)據(jù)庫，成像分析等

?  易于使用和維護(hù)

?  來源于顯微光譜領(lǐng)域?qū)＜?/span>

紫外-可見-近紅外顯微光譜

高性價(jià)比顯微分光光度計(jì)

該儀器是一個(gè)完全集成的顯微光譜單元，光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外。可同時(shí)對(duì)采樣孔徑和樣品直接成像從而進(jìn)行快速精確的測(cè)量。20/30 PV搭載Lightblades技術(shù)，即便尺寸在亞微米樣品的透射，反射，偏振，熒光光譜FLEX也能測(cè)量。CRAIC Technologies也是美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所（NIST）可追溯分光光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)**認(rèn)可的來源。