粉體行業在線展覽
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北京卓立漢光儀器有限公司
北京
面議
644
功能及特點
| ● 180mm，320mm，500mm等多種焦距可選，適應不同光譜帶寬需求； ● 光學結構采用經典的C-T結構和非球面影像校正技術，**限度了抑制了像散，使得離軸信號能夠在焦平面上匯聚于空間上的同一位置，獲得了清晰的成像，從而提高了信號強度，提升了光譜儀信號收集的能力； ● 多光柵塔臺設計，更好的發揮了儀器覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍的優勢，并可根據需要更加靈活的選擇光譜范圍和分辨率； ● 光柵采用40×40mm或68×68mm（68×84mm）大面積光柵，提高了光收集效率； ● 適應不同光譜波段使用的光柵選擇，覆蓋UV-IR全波段范圍；針對紅外（>1um）波段的**化設計，光學鏡片采用鍍金膜設計，提高紅外光反射效率； ● 更好的雜散光抑制比，達到1×10-5； ● 儀器的控制（如光柵轉換、波長掃描等）全部由計算機控制，并用USB2.0接口取代傳統的RS-232接口，不僅使儀器的連接更加簡單化，更極大提高了通訊速率； ● 采用DSP芯片控制設計使得多出入口的選擇更加具有靈活性，可根據需要選 |
| 擇雙入、出口；雙入、出口的控制通過計算機軟件自動控制，定位更精準； ● 可靈活與卓立光源、探測器（單點探測器和陣列CCD等）組合搭建，實現任 意光譜系統解決方案，如熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發射光 譜系統等。 ● 電子快門可選 ● 自動狹縫可選 |
Omni-λ180i | Omni-λ320i | Omni-λ500i | Omni-λ750i | |
焦距(mm) | 180 | 320 | 500 | 750 |
相對孔徑 | f/4 | f/4 | f/6.5 | f/9.7 |
光學結構 | C-T | |||
機械掃描范圍(nm) | 0-1200 | |||
分辨率(nm)-PMT | 0.25 | 0.08 | 0.05 | 0.028 |
分辨率(nm)-CCD(26μm) | 0.35 | 0.21 | 0.15 | 0.09 |
倒線色散(nm/mm) | 3.7 | 2.3 | 1.7 | 1.1 |
波長準確度(nm) | ±0.2 | ±0.15 | ±0.1 | |
波長重復性(nm) | ±0.1 | ±0.08 | ±0.01 | |
掃描步距(nm) | 0.01 | 0.005 | 0.0025 | |
雜散光 | 1×10-5 | |||
焦面尺寸(mm) | 30(w)×10(h) | 30(w)×14(h) | ||
光軸高度(mm) | 146.5 | |||
狹縫規格 | 縫寬：0.01-3mm連續手動可調，可選配自動狹縫； 縫高：2，4，10，14mm可選 | |||
光柵尺寸(mm) | 40×40 | 68×68 | ||
光柵臺 | 雙光柵 | 三光柵 | ||
通訊接口 | 標配USB2.0，可選RS-232 | |||
LUMiFlector
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近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
Metorex C100型
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