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作為熒光分光光度計的配件系統，這是全球首創將相機與熒光分光光度計的**結合，融合了智能算法的先進技術。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。

新型熒光分布成像系統可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內。入射 光經過積分球的漫反射后均勻照射到樣品，利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜，結合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像，并利用獨特的AI光譜圖像處理算法，可以同時得到反射和熒光圖像。

2. 熒光分布成像系統特點：

①測定樣品的光譜數據（反射光、熒光特性）

②在不同光源條件下（白光和單色光）拍攝圖像（區域：Φ20mm、空間分辨率：0.1 mm左右、波長范圍：360-700nm）

③利用自主研發的分析系統1)，分開顯示熒光圖像和反射圖像

④根據圖像可獲得不同區域的光譜信息（熒光光譜、反射光譜）

國立信息學研究所 佐藤IMARI 教授?鄭銀強副教授共同研究成果

熒光分布成像系統軟件分析（EEM View Analysis）界面(樣品：LED電路板)

樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡單！

豐富的樣品支架

支持精確測量的校正工具

以上為熒光分布成像系統的特點和功能結束，這是一種全新的技術，將它配置到熒光分光光度計中，改變了常規熒光光度計只能獲得樣品表面區域平均化信息的現狀，可以查看樣品圖像任意區域的光譜信息，十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領域。