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SOC410 VIS-IR便攜式發射率和太陽能反射率儀

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北京安洲科技有限公司

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產品介紹

SOC410 VIS-IR便攜式發射率和太陽能反射率儀

　　SOC410VIS-IR可見-紅外發射率/反射率儀是為了替換經典的Gier Dunkle DB100反射率儀而開發的，可測量包括13個光譜波段的反射率。可見光測量頭測量范圍為335 nm至2500 nm，紅外測量頭測量范圍為1.5μm至遠紅外。利用太陽輻照度函數或黑體函數，通過20°和60°兩個角度計算太陽能吸收率或熱輻射，通過計算定向發射率推測半球總發射率。測量時只需把樣品放置在測量單元的頂部即可直接測定。通過與手柄連接，該儀器可作為一個手持單元操作，一次完整的測量用時僅約10秒。該光譜儀還配備了NIST可溯源校準標樣。

產品特點：

　　♦　在接近法線和掠角兩個角度測量定向熱發射率

　　♦　半球熱輻射的預測

　　♦　測量太陽能吸收/反射

　　♦　在335至2500 nm光譜范圍內，測量總輻射、鏡面反射和漫反射能量

　　♦　可測量光譜范圍：從紫外到遠紅外

　　♦　NIST可溯源標準

　　♦　快速和便攜式使用

產地：美國SOC

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SOC410 VIS-IR便攜式發射率和太陽能反射率儀

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SOC410 VIS-IR便攜式發射率和太陽能反射率儀