粉體行業在線展覽
MCP-S330?
5-10萬元
日東精工NITTOSEIKO
MCP-S330?
335
不限
產品特點
全自動測量:測量、計算、數據處理和3D圖形輸出完全自動化,大大提高了測量效率和準確性。
大樣品尺寸測量:樣品尺寸可達300mm,可容納多個樣品,能夠繪制最大300mm見方的樣品并連續測量多個樣品。
多種測量方式:可以通過三種方式進行測量位置設置:網格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
技術參數
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:最大300mm見方。
功能與應用
應用領域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發:可用于電子元件和材料的開發和質量控制。
全自動測量:測量、計算、數據處理和3D圖形輸出完全自動化,大大提高了測量效率和準確性。
大樣品尺寸測量:樣品尺寸可達300mm,可容納多個樣品,能夠繪制**300mm見方的樣品并連續測量多個樣品。
多種測量方式:可以通過三種方式進行測量位置設置:網格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:**300mm見方。
應用領域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發:可用于電子元件和材料的開發和質量控制。
PFT型
SC-701AT
99.99
TM-DAR
JH3S-B-14
J10/JH15系列
MARK型
BC-KGWG015
C-30/C-30P
KS-12
ME-C101A
CF-5