粉體行業在線展覽
Model sigma-5+
1-5萬元
日本nps
Model sigma-5+
311
不限
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
技術參數
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:最大300mm見方。
功能與應用
應用領域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發:可用于電子元件和材料的開發和質量控制。
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:**300mm見方。
應用領域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發:可用于電子元件和材料的開發和質量控制。
PFT型
SC-701AT
99.99
TM-DAR
JH3S-B-14
J10/JH15系列
MARK型
BC-KGWG015
C-30/C-30P
KS-12
ME-C101A
CF-5