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C-Swift是CMOS探測器家族的新成員，專為常規材料分析和快速樣品表征而設計。
C-Swift繼承了Symmetry的許多優點，包括為EBSD專門定制CMOS傳感器。這些優點使得C-Swift也成為一種開創性的EBSD探測器。

C-Swift是一個先進、高速EBSD探測器。與Symmetry探測器一樣，C-Swift使用定制的CMOS傳感器來實現高速和高靈敏度，以確保即使在更具挑戰性的材料上也能獲得高質量的結果。

C-Swift速度高達1000pps，同時可獲得高質量的花樣分辨率(156x128像素）。這相當于基于CCD的探測器以相似速度運行時所采集花樣像素數的4倍，確保所有類型樣品的可靠標定和高命中率。無失真光學系統與AZtec軟件中強大的標定算法結合，使C-Swift能夠提供優于0.05°的高角度精度。對于需要更高質量花樣的應用,  C-Swift可以以高達250pps的速度采集622x512像素的花樣，使其成為復雜的多相樣品和精細的相分析的理想選擇。

這是專為快速、有效的樣品表征而設計的探測器。系統的每個組件，從獨特的接近傳感器到可選的集成前置探測器，都經過設計, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成為每個實驗室的標準工具。

• 確保1000 點/秒的標定速度

• 在250點/秒速度下，采集622x512像素的EBSD花樣

• 對低能量和低束流分析具有非常高的靈敏度

• 無失真圖像

當速度是關鍵時，C-Swift探測器達到了一個新標準：

• 僅需要12nA的電子束流，就能保證1000pps的標定速度

• 高速下的156x128像素的花樣分辨率——同等速度下快速CCD探測器的4倍

• 全分辨率花樣（622x512像素）——精細的相分析和形變分析的理想選擇

• 低失真光學系統, 確保角度精度優于0.05°

• 優化的高靈敏度熒光屏, 確保低劑量和低束流能量下的高質量的花樣——實現更大的空間分辨率

• 即使在快速下也能實現無縫的EDS集成

• 波紋管SEM接口，保持SEM真空完整性

• 獨特的接近傳感器——在可能發生的碰撞發生之前自動將探測器移動到安全位置

• 簡單直觀的探測器設置，確保每次都能獲得良好的效果

• 五個集成的前置探測器, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數襯度圖像