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研究級(jí)正置金相顯微鏡VMM5000

VMM 5000 是一款研究級(jí)正置金相顯微鏡，采用全新設(shè)計(jì)的無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)和無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距明暗場(chǎng)半復(fù)消色差專業(yè)金相物鏡，全面涵蓋反射明場(chǎng)、反射暗場(chǎng)、透射明場(chǎng)、透反射偏光、反射微分干涉等多種觀察方式，滿足多種研究需求，可廣泛應(yīng)用于鑄造、冶煉、熱處理、失效分析、線路板和半導(dǎo)體的研究， 原材料檢驗(yàn)或材料分析等多種檢測(cè)，為客戶提供完善的工業(yè)檢測(cè)解決方案。

多檔分光比觀察頭設(shè)計(jì)

全新 VMM5000 系列觀察筒，采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)，支持 26.5mm 世界先進(jìn)的超寬視野觀察，帶給您全新的大視野體驗(yàn)。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動(dòng)方向與您通過(guò)目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應(yīng)手。

三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線全部用于雙目觀察或三目攝影的基礎(chǔ)上， 增加一檔 20% 用于雙目觀察，80% 用于顯微攝影，方便用戶同時(shí)對(duì)鏡下圖像與視頻圖像進(jìn)行對(duì)比觀察；

偏振系統(tǒng)

偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和 PCB 檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和 360 度旋轉(zhuǎn)式檢偏器。360° 旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)。可在偏振系統(tǒng)的基礎(chǔ)上加載全新研發(fā)微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)。

諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)

全新研發(fā)的 U-DICR 微分干涉組件，可以將明場(chǎng)觀察下無(wú)法檢測(cè)的細(xì)微高低差， 轉(zhuǎn)化為高對(duì)比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來(lái)，如 LCD 導(dǎo)電粒子，精密磁盤表面劃痕等

中性密度濾色鏡連動(dòng)明暗場(chǎng)觀察設(shè)計(jì)

照明器前端的撥桿可使明暗場(chǎng)觀察切換更加方便，并帶有中性密度濾色鏡（ND50）聯(lián)動(dòng)功能。由于暗場(chǎng)觀察時(shí)通常需要將光源開(kāi)得比明場(chǎng)觀察更亮，此功能設(shè)計(jì)可以避免用戶在由暗場(chǎng)切換至明場(chǎng)時(shí)，眼睛不會(huì)受到強(qiáng)光的刺激，提高使用的舒適性。

透反射照明裝置，光源兼容

12V100W 超長(zhǎng)壽命燈箱，采用 PHILIPS 7724 型鹵素?zé)簦瑸橄到y(tǒng)提供充足、均勻的照明環(huán)境。搖出式消色差聚光鏡（N.A.0.9）系統(tǒng)，優(yōu)化柯拉照明低倍表現(xiàn)，有效校正色差球差， 得到理想的圖像

專業(yè)無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距半復(fù)消色差金相物鏡

●明暗場(chǎng)物鏡只需一個(gè)鏡頭就能勝任明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、微分干涉觀察。暗場(chǎng)圖像亮度得到增強(qiáng)，提高了樣品的檢出能力。

●本系列物鏡嚴(yán)格挑選高透過(guò)率的鏡片和先進(jìn)的鍍膜技術(shù)，真實(shí)還原樣品的自然色彩 ；

●明暗場(chǎng)物鏡采用鋁制外套，大大減輕了重量，對(duì)防止環(huán)境污染，改善物鏡轉(zhuǎn)換的操控性做出了貢獻(xiàn) ；

●半復(fù)消色差設(shè)計(jì)具有**的色差校正性能，提高了觀察圖像的襯度、清晰度。

●長(zhǎng)工作距物鏡廣泛適用于各種檢測(cè)領(lǐng)域，輕松實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)。

●專用明場(chǎng)半復(fù)消色差物鏡可供選擇

人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，觸手可及的操作

●鏡座底側(cè)低手位調(diào)光裝置，可靈活調(diào)節(jié)光線強(qiáng)弱，并在數(shù)字調(diào)光屏上顯示相應(yīng)電壓。可配合左手位粗微調(diào)焦，提高工作效率。

●數(shù)字調(diào)光屏上的開(kāi)關(guān)可一鍵切換透反射照明，復(fù)位按鈕將光強(qiáng)設(shè)置在使用 LBD 濾色鏡進(jìn)行顯微攝影時(shí)的電壓，約 8V，有相機(jī)標(biāo)志位置。

●鏡座上裝有 3 個(gè)濾色鏡，另外還可以選裝第四個(gè)，拉桿設(shè)計(jì)可以很容易的將濾色鏡移入/移出光路。

●左右低手位粗微同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，帶松緊調(diào)節(jié)裝置。粗調(diào)行程 25mm，微調(diào)精度 1um， 可用于測(cè)量 Z 軸方向極細(xì)微物體的高度，如錫球。

滿足多種觀察方式

全面涵蓋明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、微分干涉等多種觀察方式，適應(yīng)多種研究需求。

●高襯度暗場(chǎng)觀察。充分利用物鏡的孔徑角，能夠清晰的觀察到金相組織的雜質(zhì)及細(xì)微缺陷

PCB 切片暗場(chǎng)

●簡(jiǎn)易偏光觀察。采用 360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便地觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)

金相組織簡(jiǎn)易偏光

●DIC 微分干涉觀察。IMM5000 配置的微分干涉組件，可以將明場(chǎng)中無(wú)法檢測(cè)到的高度差異，以浮雕的形勢(shì)表現(xiàn)出來(lái)，適用于檢測(cè)高度差異及其微小的樣品， 包括金相組織、礦物和晶元表面等

半導(dǎo)體微分干涉

技術(shù)參數(shù)表

●標(biāo)配 ○選配