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ScopeX PILOT
面議
浪聲
ScopeX PILOT
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鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)鍍層厚度有了明確要求。
ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀采用下照式設(shè)計(jì),搭載先進(jìn)的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù),以及高敏變焦測(cè)距裝置,對(duì)不均勻、不規(guī)則,甚至微小件等形態(tài)的樣品,都能夠快速、精準(zhǔn)、無(wú)損檢測(cè),可輕松應(yīng)對(duì)鍍層領(lǐng)域的表面處理的過(guò)程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測(cè)和篩檢難題,被廣泛應(yīng)用于珠寶首飾、電鍍行業(yè)、汽車行業(yè)、五金衛(wèi)浴、航空航天、電子半導(dǎo)體等多種領(lǐng)域。
使用優(yōu)勢(shì)
測(cè)試各類極微小的樣品,即使檢測(cè)面積微小的樣品也可輕松、精準(zhǔn)檢測(cè)。
多濾光片和多準(zhǔn)直器可選或軟件自動(dòng)切換組合,使得儀器的多功能性得以顯著提升,以靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。
從下往上測(cè)量,無(wú)需額外對(duì)焦,可輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層樣品的高效測(cè)量。
X射線熒光是無(wú)損分析過(guò)程,不留任何痕跡,即使是對(duì)敏感性材料,其測(cè)量也是非常安全的。
可對(duì)各種異形凹槽樣品進(jìn)行檢測(cè),凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0~30 mm。
搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái),**精度可達(dá)25μm,使微區(qū)測(cè)量更便捷。
應(yīng)用場(chǎng)景
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![]() 汽車零部件 |
SuperSEM N10
TX3000
LIBS 5000
LIBS 820C/LIBS 830C
LIBS 3000
TX3300TI
FRINGE D200
FRINGE EVS
TX3300Cl
XUANCAI
TrueX系列(手持式)
SHINE 地球化學(xué)版(礦物巖石)
Revontium
Lattice 系列 高功率X射線
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
SAXSpoint 700
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus