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可用于測試各種類型發光體，如激光器、等離子體、白熾燈、熒光燈、LED、紅外光源等發射光譜 （原子光譜、連續光譜等）分布情況。

技術指標

• 光譜范圍：200-2500nm (可根據實際需要選擇）
• 波長準確度：±0.2nm
• 光譜分辨率：±0.1nm
• 光譜帶寬：0.2-10nm 可調

系統特點

• 選用高靈敏度光電倍增管和銦鎵砷探測器
• 掃描型可配合鎖相放大器和光斬波器，可極大程度上提高系統信噪比
• Mini 攝譜型，并可計算峰值波長、中心波長、半高寬等參數
• 模塊化設計，結構靈活，方便升級