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X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設(shè)備。

XDV-SDD設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅(qū)動的Z軸升降臺。當具有防護功能的測量門開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點，可以快速對準需要測量的位置。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，簡化了樣品放置的過程，并可對測量點位置進行精確微調(diào)。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。

XDV-SDD*多可同時測定從鋁（13）到鈾（92）中的24 種元素

測量門向上開啟的臺式儀器，側(cè)面開槽設(shè)計

馬達驅(qū)動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺

馬達驅(qū)動、可切換的準直器和基本濾片。

儀器配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管，三擋可調(diào)節(jié)高壓，6個可切換的基本濾片。

可按要求，提供額外的XDV 型產(chǎn)品更改和XDV 儀器技術(shù)咨詢