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AXIS SUPRA X射線光電子能譜儀

Axis Supra 的設(shè)計(jì)理念是將樣品自動(dòng)載入、光學(xué)顯微鏡輔助定位樣品分析位置和智能的數(shù)據(jù)采集、處理等易用性集成于高端XPS，并未由于高度自動(dòng)化而喪失高性能。超高的靈敏度、杰出的能量分辨和快速、高空間分辨的成像滿足絕大多數(shù)高要求的應(yīng)用

技術(shù)特點(diǎn)

·大功率X光源和浸入式磁透鏡設(shè)計(jì)以獲取高的檢測靈敏度。

·大平均半徑的雙聚焦半球能量分析器，可以獲得高的譜線能量分辨。

·**二維陣列延遲線檢測器，可以同時(shí)記錄光電子的信號(hào)強(qiáng)度及其發(fā)射位置，亦可以在數(shù)秒的時(shí)間里獲取完整的XPS譜圖。

·**的同源中和器，具備無陰影荷電中和能力，且對(duì)于表面凸凹不平的樣品，可實(shí)現(xiàn)精確電荷中和。

·標(biāo)配單色化Al陽極，亦可選購單色化的Al/Ag雙陽極，并且單色化陽極靶可以更換多個(gè)新鮮靶點(diǎn)，極大地延長了陽極靶的使用壽命。

·標(biāo)配進(jìn)樣室定位光學(xué)顯微鏡，可以在進(jìn)樣預(yù)抽真空時(shí)定位多樣品的分析位置，然后轉(zhuǎn)入分析室實(shí)施自動(dòng)分析。