粉體行業(yè)在線展覽
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AMPTEK INC.
美國(guó)
面議
849
下一代硅漂移探測(cè)器 (Next Generation SDD)
超快型硅漂移探測(cè)器 (Super Fast SDD)
10倍通量 & 不損失任何分辨率
| 能量分辨率（FWHM，[eV]） | 峰化時(shí)間（微秒） |
| 125 | 8 |
| 135 | 1 |
| 145 | 0.2 |
圖1. 能量分辨率和峰化時(shí)間曲線
圖2. 不同峰化時(shí)間條件下超快型硅漂移探測(cè)器的輸出計(jì)數(shù)率和輸入計(jì)數(shù)率的關(guān)系
圖3. 不同峰化時(shí)間條件下超快型硅漂移探測(cè)器的能量分辨率和輸入計(jì)數(shù)率的關(guān)系
圖4. 一秒鐘采集結(jié)果的定量分析1（樣品為316型不銹鋼-NIST 3155）
而以下表格則顯示了圖4中數(shù)據(jù)的定量分析結(jié)果。
| 元素 | 合格濃度 | Super SDD僅需1秒 |
| V | 0.05 | 0.16±0.28 |
| Cr | 18.45 | 18.32±0.80 |
| Mn | 1.63 | 0.0±0.55 |
| Fe | 64.51 | 65.89±1.64 |
| Co | 0.1 | 0.00±0.40 |
| Ni | 12.18 | 12.56±0.47 |
| Cu | 0.17 | 0.19±0.02 |
| Mo | 2.38 | 2.34±0.08 |
圖5. 1.2Mcps輸入計(jì)數(shù)率（ICR）情況下測(cè)量錳（Mn）樣品
圖6. 一秒鐘采集結(jié)果的定量分析2（樣品為焊錫）
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