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掃描電遷移率粒徑譜儀

SMPS+C和SMPS+E雙系統(tǒng)

GRIMM SMPS+C系統(tǒng)采用傳統(tǒng)的差分電遷移率粒徑分級(jí)器（DMA）和凝聚核粒子計(jì)數(shù)器（CPC）技術(shù)結(jié)合，兩種不同型號(hào)的DMA可以同時(shí)檢測(cè)5—350納米或10—1100納米的氣溶膠的粒徑分布。根據(jù)應(yīng)用不同，可以選配移動(dòng)式：CPC 5403，實(shí)驗(yàn)室固定式：CPC 5416 或 19英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜式：CPC 5421。系統(tǒng)每次開機(jī)時(shí)，自動(dòng)自檢以確保系統(tǒng)準(zhǔn)確性，自檢內(nèi)容包括泄露測(cè)試、DMA 型號(hào)確認(rèn)、 DMA 電壓測(cè)試、CPC 狀態(tài)檢查等。自檢通過(guò)后，軟件自動(dòng)控制采樣、測(cè)量和數(shù)據(jù)記錄。

測(cè)量參數(shù) SMPS+C

1.檢測(cè)粒徑范圍：5-350 納米（M-DMA）；

10-1100 納米(L-DMA)

2.檢測(cè)濃度范圍： 0--10⁸ /cm³

3.粒徑通道：*多255通道

4.CPC D₅₀粒徑： 4 納米

5.CPC 響應(yīng)時(shí)間： 4 秒

GRIMM SMPS+E系統(tǒng)采用差分電遷移率粒徑分級(jí)器（DMA）和法拉第靜電計(jì)（FCE）技術(shù)結(jié)合，配合3種不同的DMA，粒徑檢測(cè)下限可以低至1納米，檢測(cè)數(shù)量濃度高達(dá)10⁹個(gè)/cm³。