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儀器簡介：

供電測試和電子分析 Solartron FRA產品的成功可以歸功于下列應用的開發：電子放大器設計，電壓控制振蕩器，集成電路設計，相閉合回路 和開關式電源，這些已經用于電信和衛星系統。Solartron FRA還用于開發高密度磁盤激光控制特征和機器人模擬技術 (主要是在日本)。電信 傳遞函數包括電對電－類似于電源測試，即在我們的FRA頻 率范圍如模擬開關中的開關單元。新的聽筒技術的開發即音 頻輸出到電子輸出－分析麥克風電路和可替代的電子輸出到 音頻輸出。決定產品有效性的常規標準被用于電信工業來確 定產品用于傳遞函數分析的可行性。工業上使用的電源也要 進行測試。新用途 目前我們的市場包括火箭推進器控制系統、衛星系統設計、 新橋梁設計制造研究、伺服系統的參數和性能分析如用于迪 斯尼樂園“星球之旅”的模擬從而確保大小和相位裕度能夠 保持在合適的范圍之內；至于建筑結構研究，只是Solartron FRA單元用途的一小部分。*近的關于FRA的應用涉及邊緣 科學研究的如下文所述：強調制光電流光譜(IMPS) IMPS的目的是測定出現在半導體/電解質結合處的光電流的 響應。當半導體被照射，激發內部電子通過禁能隙，使電子 躍遷到導帶和價帶空穴 。使用外電路，通過記錄這一反應過程中的光電流競爭過程即可以測出這些光激發載體信號，包 括電荷轉移與重組，二者均為一級反應。這就導致了光激發 與響應之間的特性滯后(即相移)。IMPS的主要任務是測定光 電流的頻率響應，以便推導出動力學信息。半導體中的激發 態可以通過使用強調制光源如聲光調幅器＋激光，或具有特 定發射波長的發光二極管(LED)來照射材料而獲得。電壓調制微波反射(PMMR) PMMR技術是當電位被調制時，用來監測半導體電極的微波 反射。材料的微波反射與其電導率成正比。因電導率依賴于

載荷子密度，該技術可以直接監測界面孔與電子密度的變 化。半導體系統中，當得到關于電荷的形成和衰變的基本信 息后，就可以獲得關于反應動力學的直接信息。光電化學阻抗光譜(PEIS) 該技術非常類似于IMPS，只是不是調制光，而是電壓變化 之后測試阻抗。

技術參數：

發生器波形：正弦波，方波，三角波

頻率：10uHz-65kHz

幅度：10mV-10.23V

分辨率：1/1023

主要特點：

1250 系列頻率響應分析儀

1250系列頻響分析儀FRA為增益及相位的測量提供了 一些精確的解決方法。待測設備由正弦波來激勵并在系統中分析一、二點或 更多點處的響應。然后將這些響應與激勵正弦波相關去確定相對于發生器的幅度及相位。由測得的兩信號 的比值就可用于求得系統的傳遞函數。該過程抑制所有諧波并且通過增加積分時間將即使那 些被淹沒在噪聲中的信號也能被精確地測量出來。1250系列中300V的量程對燃料電池堆及各種機動車 和住宅電源用的高壓電池組的測量特別有用。1250系列頻響分析儀的主要特性包括 ● 交流幅度范圍-10mV 到10V 用于電源測試● 分析量程- 300V 也即用于自動測試系統ATS 電站 振動測試● 噪聲抑制能力● 同步器選項可使發生器及載波器的信號按照頻率及 相位加以鎖定● 有能力分析非線性系統● 多通道分析● 1254頻響分析儀有4個平行通道● 面板或軟件(Visual Basic)控制操作● 調制/解調卡與交流載波系統互聯控制系統 頻響分析儀的標準應用是產生一個信號并將該信號接 到轉換器，去激發待測系統，然后將系統響應經傳感器反饋到分析儀進行測試分析。用于空氣動力學測試 這些轉換器安置于待測系統上，并將響應信號經過傳感器再反饋到頻響分析儀使體系得以表征。其典型應 用包括：● 自動化測試系統● 電源測試