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臺式Micro CT掃描儀--- inCiTe
由滑鐵盧大學STAR組**技術創造的世界上很高空間分辨率的直接轉換X射線探測器具有具有 30％ 調制傳遞函數（MTF）和64 cycles/ mm 圖形條件下 10％ 檢測量子效率（DQE）。 KAImaging是滑鐵盧大學衍生出來的企業，成功開發了一系列成像產品，包括X射線探測器---Reveal™，平板探測器--- Solo 35G™，X射線相機---BrillianSe™，以及臺式Micro CT掃描儀--- inCiTe。
產品-1： X射線探測器---Reveal™
Reveal™是KA成像公司的便攜式x射線探測儀，它使骨骼和軟組織在一次x射線照射中沒有運動偽影。本質上，Reveal™的工作原理類似于雙能量探測器。不同之處在于探測器能夠通過一次x射線拍攝來分離不同的能級。KA成像公司獨特的**技術的特點是便攜式和可翻新的設計，能夠同時捕獲雙能量圖像和非常高的DQE數字放射成像(DR)圖像。
產品-2： 平板探測器---Solo 35G™
Solo 35G™是一款平板探測器，它的特點是重量輕，x射線劑量低。改進的調制傳遞函數(MTF)和探測量子效率(DQE)提供了不妥協的圖像質量。該探測器還具有快速的傳輸速度，通過天線設計實現2秒的圖像傳輸，使更強的WiFi信號接收。內置的無線通信支持IEEE 802.11ac，是國際上的* 快的傳輸速度。
產品-3：X射線相機---BrillianSe™
非晶硒(a-Se) BrillianSe™x射線相機是用于高亮度成像。混合的a-Se/CMOS探測器使用具有高本征空間分辨率的a-Se光導體來直接將x射線光子轉換成電荷。然后由低噪聲CMOS有源像素傳感器讀出電子信號。(APS)。如果不需要首先將x射線光子轉換成可見光，就像在基于間接閃爍的方法中那樣，就沒有必要細化轉換層以*小化光散射。BrillianSe™提供了一個結合高空間分辨率使用8μm像素，偵探和高量子效率(DQE) 110 keV能量。這種組合能夠在低通量和高能量下高效成像，以及基于傳播(無光柵)的在線相位對比度增強，以提高成像低密度材料時的靈敏度。
產品-4：臺式Micro CT掃描儀--- inCiTe
KA Imaging的臺式微型CT掃描儀是市場上第 一 款X射線分析儀采用KA Imaging開發的新型高空間分辨率硒檢測器技術。硒檢測器的高檢測效率在低X射線輻射劑量就可進行非常高速的采樣。由于效率高，可以在全分辨率下獲得****的體積掃描速度。inCiTe微型CT掃描儀采用基于申請**的傳播相位對比法成像，可增強通常低X射線吸收的精細結構細節。相位對比法更合適成像低密度材料。此外，InCiTe 微型CT掃描儀配備了高質量的微焦X射線源，可實現****的分辨率。集成的軟件控制和簡化的用戶界面可實現高度自動化并減少依賴操作員的交互。 inCiTe 微型CT掃描儀的尺寸和重量優化用于*小的占用空間，便于運輸并方便地集成到實驗室臺式工作站中。
inCiTe 微型CT掃描儀適用于生物材料，聚合物復合材料和其他低密度材料。無論是臨床前成像，無損檢測（NDT），標本射線照相或添加劑制造材料的研究領域都可以從這項新成像技術中受益。
臺式MicroCT掃描儀--- inCiTe是首 個采用KAImaging 開發的高空間分辨率 a-Se探測器技術的商用X射 線CT掃描儀。 a-Se 探測器的高轉換效率可在低X射線輻射劑量下實現非常高速的采樣。基于高效率，在全分辨率成像可達到超高的體積掃描速度。另外，基于傳播的相位對比法X射線成像能夠達到幾個數量級的改善低X射線吸收的材料的可檢測性，同時沒有類似基于光柵技術相位對比法的信號衰減現象。
獨特優勢
這一款新型微型CT掃描儀在完備的臺式系統中具有高效，高分辨率的X射線成像。
• 直接轉換X射線探測器比閃爍體型探測器高出100倍
• 無光柵實時相位對比法 (phase-contrast）成像
• 高分辨率傳統微CT成像
• 空間分辨率低至0.37 μma
• 快速單次掃描，3.2 mm視野，空間分辨率為0.6 μmb
• 高速處理器和圖像顯示硬件
相位對比法的優勢
具有低X射線吸收或小吸收梯度的材料在使用常規X射線成像技術時會導致低對比度圖像。然而，通過相位對比法的X射線成像后，靈敏度可大幅提高助于視化這些材料體。我們的相位對比法技術是基于X射線束的自由空間傳播，將物平面處的X射線相位變化轉換成圖像平面中的X射線強度變化。基于傳播的相位對比法X射線成像能夠達到幾個數量級的改善低X射線吸收的材料的可檢測性。
實現檢測技術
由滑鐵盧大學STAR組**技術創造的世界上* 高 空間分辨率的直接轉換X射線探測器具有具有30％調制傳遞函數（MTF）和 64 cycles/mm圖形條件下10％檢測量子效率（DQE）。
應用案例-生物科學和醫學
應用案例-材料分析
應用案例-無損測試
技術規格
參考文獻
lC. Scott， Hybrid SemiconductorDetectors for High Spatial ResolutionPhase-contrast X-ray Imaging， PhDThesis， U of Waterloo， 2019
K. Karim et al.， High DoesEfficiency， Ultra-high Resolution Amorphous Selenium/CMOS Hybrid Digital X-rayImager， IEEE International Electron Devices Meeting， 2015.
