粉體行業在線展覽
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直接聯系
北京天正仁和科技發展有限公司
日本
面議
468
簡介：
本測量器可以用非常簡單且高精度的方式，測量在常溫中的各種物體的放射率。是本公司自身的產品。
本測量器早已經由宇宙開発、原子力、半導體產業等的尖端技術分類上所采用。從研究開発應用至生產線上的應用等，可供活用的范圍非常廣泛。
選配記錄器，可將所測量值記錄并連接PC獲取數據及繪制曲線，分析放射曲線、**、*小、平均值。
應用：
●在機器的熱設計中必須使用的零件的放射率測量
●藉由放射溫度計的測量物體來補正放射率
●各種零件的加工／處理前后的放射率比較
●其他、從零件的放射率求取物體本身的放射率等
●材料科學院、實驗領域必須的檢測分析設備
產品構成：
１．紅外線照射源
藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在試料中集中照射。
２．紅外線檢驗素子
從試料反射出的能量的一部分，射進半球面黒體爐的頂點的小孔，用一定比率做檢驗。
注：比率是依據光學系的構造來決定。
３．放射率演算回路
從反射能量檢驗器的輸出，演算試料的放射率。
注：試料的反射率和放射率的關系式如下：r ε ε＝１－r
４．放射率表示値的校正
利用附屬的放射率基準片（ε＝０．０６與０．９４）做校正
測量原理：利用恒溫放射的遠紅外線放射源，將能量照射后計算所反射的能量。
測量波長：2-22μｍ
測量范圍：0.00-1.00
額定精度： ±0.01
測量面積：Φ15mm
測量距離：12mm（固定偵測頭的腳柱部）
被測物溫：10-40℃（室溫）
輸 出：0-0.1V，0-1V（滿載）
使用溫度：10-45℃
使用濕度：35-85%RH（未結露、霜之狀態）
使用電源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：偵測頭Φ51X137mm（0.5Kg） 本 體H170X W306ｘD230mm（5Kg）
附屬裝置：放射率0.94、0.06基準片各一片。
使用此產品的部分客商：北芝電機、象印魔法瓶、新力電器、夏普電機、新日本制鐵、三菱重工、豐田合成、旭硝子、住友金屬、東芝電機、柯尼卡、信越化學、島津制造所、住友特殊金屬等。
