粉體行業在線展覽
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直接聯系
北京中教金源科技有限公司
北京
面議
445
典型應用
各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：
分立和無源元件
– 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬 氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻
– 三抽頭器件——小信號雙極結型晶體管（BJT）場效應晶體管（FET），等等
簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感 器、轉換器、穩壓器
集成器件——小規模集成（SSI）和大規模集成（LSI） – 模擬IC
– 射頻集成電路（RFIC）
– 專用集成電路（ASIC）
– 片上系統（SOC）器件
光電器件，例如發光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發射激光器 （VCSEL）、顯示器
圓片級可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、電遷移
太陽能電池
電池
更多…
一、 通用設置
1. NPLC 2. 接線方式（2、4線制） 3. 自動調零 4. 濾波
二、 單階恒流輸出測量（BiasIMeasureV-Single）
三、 單階恒壓輸出測量（BiasVMeasureI-Single）
四、 多階恒流輸出測量（BiasIMeasureV-Steps）
五、 多階恒壓輸出測量（BiasVMeasureI-Steps）
六、 分段電流掃描（SweepIMeasureV-Section）
七、 分段電壓掃描（SweepVMeasureI-Section）
八、 連續電流掃描測量（SweepIMeasureV-Continuity）
九、 連續電壓掃描測量（SweepVMeasureI-Continuity）
十、 雙通道電流同步掃描（Dual-SweepIMeasureV）
十一、 雙通道電壓同步掃描（Dual-SweepVMeasureI）
十二、 波形輸出-正弦波（Wave-Sine）
十三、 波形輸出-方波（Wave-Square）
十四、 電化學-循環伏安（Cyclic voltammetry）測量
十五、 電化學-多電流躍階測量（Multi-Current Steps）
十六、 電化學-多電位躍階測量（Multi-Potenital Steps）
十七、 太陽能電池IV特性測量（Solar Cell IV）
十八、 雙通道恒流恒壓測量（Dual Channel IV）-
十九、 直流FET-轉移曲線測量（DC-FET-Transfer）
二十、 直流FET-輸出曲線測量（DC-FET-Output）
二十一、 脈沖FET-轉移曲線測量（Pulse-FET-Transfer）
二十二、 脈沖FET-輸出曲線測量（Pulse-FET-Output）
二十三、 直流FET柵極方波曲線測量（DC- FET- Gate- Square Wave）
二十四、 流FET漏極方波曲線測量（DC- FET- Drain- Square Wave）
