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日本YAMADA山田 高輝度半導體檢查燈

這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 si 晶園和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux(30Ф)或更高的照明，可以觀察到細微的劃痕。

日本YAMADA山田半導體檢查燈產品特點:

可照亮樣品表面400.000Lxl以上。

2、光源采用鹵素燈，色溫高，照度不均小，光線極其穩定銳利。

3、采用冷鏡，熱量的影響極大地降低到傳統锠鏡的1/3。

4、兩級切換機構，一鍵實現高照度觀察和低照度觀察。YP-1501照度范圍:30mmp

基本信息高強度鹵素光源裝置

超精密平面檢測的理想選擇!通過驚人的照明，可以檢測小于 0,2 um 的缺陷。“YP-1501"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測*終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶

樣品表面的照度可超過 400.000 Lx。

另外，由于采用鹵素燈作為光源，色溫高，

光照不均勻的情況很少，光照***穩定銳利:

姊妹機“YP-2501"也可用于 8 英寸。