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儀器簡介：

納米粒度測量——**動態(tài)光背散射技術(shù)

隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關檢測（PCS）變得更加不確定。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，超細顆粒分析儀器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研發(fā)成功，**引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和先進的數(shù)學處理模型，NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm，樣品濃度更可高達百分之四十，基本實現(xiàn)樣品的原位檢測。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率，直接比照因顆粒的布朗運動而產(chǎn)生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度，較之于傳統(tǒng)的自相關技術(shù)，信號強度高出幾個數(shù)量級。另外，新型“Y”型梯度光纖探針的使用，實現(xiàn)了對樣品的直接測量，極大的減少了背景噪音，提高了儀器的分辨率。

Zeta電位測量：

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出**一代Nanotrac wave II微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Nanotrac wave II采用先進的"Y"型光纖探針光路設計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結(jié)果準確可靠，重現(xiàn)性好。

技術(shù)參數(shù)：

主要特點：

﹡ 采用**的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法

﹡ **的:“Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。

﹡ **的異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。

﹡ **的可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。

﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

﹡ **的快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method），迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。

﹡ **膜電極設計，避免產(chǎn)生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。

﹡ 無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

﹡ 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度