粉體行業(yè)在線展覽
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BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
直接聯(lián)系
激光粒度儀-丹東百特儀器有限公司
遼寧
面議
丹東百特
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
54
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
1、粒徑檢測(cè)
| 粒徑范圍 | 0.3 nm - 10 μm* |
| *小樣品量 | *小40μL（可訂制其它容量）* |
| 檢測(cè)角度 | 173°+11.2°（可對(duì)應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度） |
| 樣品濃度 | ≤40%（W/V）* |
| 粒徑算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
2、Zate電位測(cè)試
| Zeta范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
| 原理 | 相位分析光散射PALS |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm * |
| Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm * |
3、分子量測(cè)試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da * |
4、微流變測(cè)試
| 測(cè)試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃俊?fù)數(shù)粘度 |
5、趨勢(shì)測(cè)試
| 溫度趨勢(shì) | 粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢(shì)，自動(dòng)檢測(cè)溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)Tm |
| 時(shí)間趨勢(shì) | 粒度與Zeta電位隨時(shí)間的變化趨勢(shì) |
| pH值趨勢(shì) | 粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢(shì) * |
6、系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/td> |
| 激光器 | 高性能固體激光器，波長(zhǎng)671nm（不同波長(zhǎng)激光器可選） |
| 相關(guān)器 | 快、中、慢多模式，*快25 ns采樣，*多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
| 檢測(cè)器 | APD |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% -100%，自動(dòng)或手動(dòng)控制 |
| * 依賴(lài)于樣品和選件 | |
檢測(cè)參數(shù)
動(dòng)態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●計(jì)算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
趨勢(shì)測(cè)試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試
靜態(tài)光散射
● **分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
● 動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式
BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴(lài)于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
● BAT-1自動(dòng)滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴(lài)性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試，具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴(lài)于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。
● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
● 0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測(cè)試。
相關(guān)技術(shù)
產(chǎn)品咨詢(xún)
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
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