粉體行業在線展覽
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SU8700
直接聯系
蘇州科蒂斯懷特工業設備有限公司
日本
面議
日立
SU8700
3321
隨著快速數據采集和數據處理技術的發展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且注重其采集過程的時代。SU8700作為一款面向新時代的SEM，在日立電鏡貫有的高圖像質量和高穩定性的基礎上，增加了包括自動獲取數據等高通量的功能。
日立的高亮度肖特基場發射電子槍可同時支持超高分辨觀察和快速微束分析。在不使用樣品臺減速的情況下，僅用0.1 kV的低加速電壓仍可進行高分辨觀察，適應更多應用場景。同時，可搭配多種新型探測器和其他豐富的選配項，滿足更多的觀測需求。
EM Flow Creator 允許客戶創建連續圖像采集的自動化工作流程。EM Flow Creator將不同的SEM功能定義為圖形化的模塊，如設置放大倍率、移動樣品位置、調節焦距和明暗對比度等。用戶可以通過簡單的鼠標拖拽，將這些模塊按邏輯順序組成一個工作程序。經過調試和確認后，該程序便可以在每次調用時自動獲得高質量、重現性好的圖像數據。
原生支持雙顯示器，提供靈活、高效的操作空間。
6通道同時顯示與保存，實現快速的多信號觀測與采集，帶來更多信息。
單次掃描**支持 40,960×30,720 的超高像素*
| 電子光學系統 | 二次電子分辨率 | 0.8 nm@15 kV |
|---|---|---|
| 0.9 nm@1 kV | ||
| 放大倍率 | 20 ~ 2,000,000 x | |
| 電子槍 | 肖特基場發射電子源 | |
| 加速電壓 | 0.1 ~ 30 kV | |
| 著陸電壓*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
| **束流 | 200 nA | |
| 探測器 | 標配探測器 | 上探測器（UD） |
| 下探測器（LD） | ||
| 選配探測器*3 | 鏡筒內背散射電子探測器（MD） | |
| 半導體式背散射電子探測器（PD-BSE） | ||
| 高靈敏低真空探測器（UVD） | ||
| 掃描透射探測器（STEM） | ||
| 選配附件*2 | X射線能譜儀（EDS） | |
| 電子背散射衍射探測器(EBSD) | ||
| 樣品臺 | 馬達驅動軸 | 5軸馬達驅動 |
| 移動范圍 | ||
| X | 0 ~ 110 mm | |
| Y | 0 ~ 110 mm | |
| Z | 1.5 ~ 40 mm | |
| T | -5 ~ 70° | |
| R | 360° | |
| 樣品室 | 樣品尺寸 | **直徑：150 mm*4 |
| 低真空模式 | 真空范圍 | 5 ~ 300 Pa |
AQF-2100H
NSX-2100V
FlexSEM1000
TM4000
SU8700
EPLEXOR?系列
LFA 427
NanoTR / PicoTR
MFR,MVR
Plastograph EC
轉矩流變儀
DSE25/16~52D
場發射掃描電鏡 SEM5000
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
Veritas
Transcend II
KYKY-EM8000
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
