粉體行業在線展覽
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Mars 4400
直接聯系
中電科風華信息裝備股份有限公司
山西
面議
中電科風華
Mars 4400
339
產品描述：SiC晶圓腐蝕后的位錯檢測設備。設備采用微分干涉相差的光學顯微成像技術，可進行全片掃描并采集完整數據，計算并自動統計位錯數量與密度，生成位錯密度圖。
產品參數：
應用范圍：SiC襯底切割片、研磨片、拋光片的位錯檢測分析(經KOH腐蝕)
可測晶片尺寸：標準4,6,8英寸及其它非標尺寸
Mars 4400
PDI-10半導體檢測設備
Mars 4410/Mars 4420
Saturn 3510
全自動汽車B柱貼合組裝生產線
筆電（NB）系列背光生產線
GTJ-360自動上框貼膠機
ZBZ-15E自動BLU前工序組裝機
ZTD-15E自動BLU疊片機
車載系列背光生產線
OLED智能穿戴產品自動邦定生產線
在線式中小尺寸全自動邦定生產線
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
在體皮膚拉曼分析儀
片式電容四參數測試機
0～10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
