粉體行業在線展覽
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DIATEST塞規式測量系統
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北京地泰科盛科技有限公司
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地泰科盛
DIATEST塞規式測量系統
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簡介
DIATEST座規式測量系統特有的導向體設計，保證了測量結果的可掌性，解決了孔徑測量的對中難題，**限度地減少了人為因素對測量結果的影響，可方便、快速、準確得出測置結果測頭為非標定制，按圖紙及使用要求加工制作!
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