粉體行業在線展覽
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DIATEST內徑表式測量系統
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北京地泰科盛科技有限公司
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地泰科盛
DIATEST內徑表式測量系統
654
特性
測置方法:比較法測量，:需要校準件。測頭:帶硬質合金測點，中心橋型構造可以自動定中心。測砧:硬質合金，半徑為8.0mm，
測力:測力恒定，
手柄:多種手柄選擇，具有隔熱的特點，可減少溫度對測置值的影響。
校準:環規或千分尺
附件:轉角，深度延長桿，深度擋塊等。
顯示:顯示裝置連接孔徑為中8h6，可連接指針表、數顯表、
傳感器等。
成套包舍:測頭，測砧，延長桿，手柄，指示表，校準配件，木盒，扳手。
成套購買價格憂惠
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