粉體行業(yè)在線展覽
平坦度測量儀
面議
上海翱晶
平坦度測量儀
928
平坦度測量儀FT-900
測量晶片或磁盤等的翹曲、平坦度的設(shè)備
·可測量直徑不超過200mm的樣品。
·可對半導(dǎo)體晶片(硅、化合物、氧化物、玻璃)、硬盤驅(qū)動器上使用的磁盤(鋁、玻璃)、
工業(yè)用金屬片、任意形狀的樣品進行測量。
·無論樣品為粗糙表面或光滑表面、透明物體或者樣品上有開孔、形狀不規(guī)則,都可以進行測量。
·通過相移法對激光斜入射干涉計產(chǎn)生的干涉條紋進行圖像分析,以此實現(xiàn)對多種樣品的數(shù)據(jù)測量。
混合激光顯微鏡
半導(dǎo)體襯底和外延
KOH腐蝕爐
平坦度測量儀
晶片晶格畸變應(yīng)力掃描儀
氮化鎵(GaN)MOCVD系統(tǒng)
碳化硅(SiC)外延爐
高精度全自動減薄機
半導(dǎo)體晶片倒角機
半導(dǎo)體晶片倒角測量儀
半導(dǎo)體芯片老化和邏輯測試系統(tǒng)
RIGAKU日本理學(xué)新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設(shè)備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
在體皮膚拉曼分析儀
片式電容四參數(shù)測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀