粉體行業在線展覽
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SAM 大視場掃描系統
直接聯系
PVA TePla中國
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面議
PVA TePla
SAM 大視場掃描系統
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SAM大視場系列是專門為分析DCB’s或電源模塊而開發的產品系列，可支持檢測掃描范圍為300μm x 300μm到1300mm x 1300mm。多至8個傳感器可實現超高檢測通過率。該系統包括自動缺陷審查軟件、GEM/SECS通訊，以及MES通訊。
激光打標站和分類輸出端口可供選擇。
PlasmaPen? 大氣式等離子系統
PlasmaPen? 大氣式等離子機
射頻等離子機
IoN系列等離子系統
條形等離子系統 80 Plus
批量封裝處理系統 等離子系統 GIGA690
單晶片系統
GIGAbatch 310M等離子系統
SAM 大視場掃描系統
PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡
VPD量測系統
雷射量測系統
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
在體皮膚拉曼分析儀
片式電容四參數測試機
0～10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
