粉體行業(yè)在線展覽
OpenLight 科研級晶圓缺陷檢測平臺
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OpenLight 科研級晶圓缺陷檢測平臺
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OpenLight 是面向高校和科研院所,應(yīng)用于裸片、晶圓、芯片、器件等半導體各制程段產(chǎn)品的顯微觀測,是 AOI 算法、工藝驗證、光學實驗等應(yīng)用的研發(fā)利器
OpenLight 采用自主設(shè)計的超高速、大視野、高解析度的成像系統(tǒng),集合無限遠光學系統(tǒng)主鏡筒、大功率全視野均勻照明系統(tǒng)、明場/暗場/DIC 多觀察方式、實時/擬合對焦系統(tǒng)等部分,提供穩(wěn)定顯微成像方案;運動系統(tǒng)使用大理石基臺配合獨立隔振器,保證高速運動下穩(wěn)定,消除對成像及檢測的干擾
項目 | 內(nèi)容 |
晶圓尺寸 | 4" / 6" / 8" / 12" |
檢測相機 | 線陣:4k 128 線 TDI |
Review 相機 | 面陣:彩色 1200 萬像素 |
鏡頭 | 2X / 5X / 10X / 20X |
照明方式 | 高亮點光源反射式照明 |
對焦方式 | 硬件實時主動對焦 |
運動行程 | X軸/Y軸/Z軸:350/400/50mm |
整體尺寸 | 1300mm * 900mm * 1600mm |
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設(shè)備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng)
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
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