粉體行業在線展覽
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F300-EPI GaAs
直接聯系
昂坤視覺（北京）科技有限公司
北京
面議
昂坤視覺
F300-EPI GaAs
666
l 適用于GaAs EPI外延片
l 具備AOI、OCR等功能
l 兼容4 inch和6 inch晶圓
l 自研光學鏡頭: FOV ~15.6mm
l 缺陷檢測空間分辨率：1.3μm x 1.3μm
l Review復查分辨率： 0.19μm x 0.19μm
l 缺陷檢出率 ≥ 98%
l 缺陷誤檢率 ≤ 2%
l 缺陷重復性 > 95%
l 鐳刻碼OCR識別率 ≥ 99.9%（選配）
F2000 集成電路前道晶圓缺陷檢測設備
圖形化晶圓缺陷檢測設備
E3200 GaN缺陷檢測設備
E1000 化合物半導體缺陷檢測設備
E3500 SiC 缺陷檢測設備
F300-PSS PSS 缺陷檢測設備
F300-EPI GaAs
COW/COT AOI芯片缺陷檢測設備
F300-DPW
SPI300 晶圓形貌測量與分選設備
MOCVD在線監測系統 viperRTC-LSD
MOCVD在線監測系統 viperRTC–LSS
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計
SLS-LED-80B
SCI300
LS-100 PRO
