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KSI－Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的**結(jié)合

KSI Nano型超聲波掃描顯微鏡是擁有高分辨率的聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)，它能對實測器件的表層缺陷作超高分辨缺陷檢測。

在使用100MHz——2000MHz的超高頻超聲波時，這種分辨率得以實現(xiàn)。

KSI nano 還包含一個倒置光學(xué)顯微鏡，在進行超聲波檢測前可利用它調(diào)整樣品的位置。

KSI nano超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)還應(yīng)用于世界各地的生命和物質(zhì)科學(xué)研究。

- 換能器頻率范圍：100MHz——2000MHz頻率實現(xiàn)高分辨率

- 探測深度<100nm

- 特殊平均模式使信噪比更好

- 同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機械性能上具有關(guān)聯(lián)性。

- 光聲效應(yīng)增強了對比性

- 放大倍數(shù)：1000倍

- 入射光顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡可調(diào)節(jié)