粉體行業(yè)在線展覽
XB1152 測試平臺
面議
芯暉裝備
XB1152 測試平臺
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1. 非易失存儲器晶圓級BIST測試平臺。
2. 通過提高并行測試數(shù)量,縮小測試機外形體積等設(shè)計顯著降低了測試成本(COT)。
3. 搭配具有12個測試單元的一體prober使用,節(jié)省大量的設(shè)備占用空間。
4. 成熟的自動控制系統(tǒng)實現(xiàn)自動化測試。
5. 高MTBF,低MTTR。
6. 全球裝機量超過4000臺。
應用場景 | NAND/NOR Flash |
Test Speed | 同測數(shù)高達1152 個DUTS |
Image Capture Speed | 每個DUT分配獨立的4個pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin |
工作頻率 | 20 MHz |
電源范圍 | 0 ~ 4 V 200 MA 每個DUT |
晶圓銅霧離子檢查設(shè)備-HD
晶圓表面及邊緣檢測設(shè)備-SEDI
晶圓邊緣檢測設(shè)備-EDI
XV1152 測試平臺
晶圓隱裂外觀檢測設(shè)備(ADS)
XB1152 測試平臺
晶圓隱裂外觀邊緣檢測設(shè)備-ADSE
金屬污染物M-SPEC系列
離子污染物I-SPEC系列
有機污染物O-SPEC系列
200mm硅片研磨設(shè)備
300mm硅片研磨設(shè)備
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設(shè)備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng)
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
在體皮膚拉曼分析儀
片式電容四參數(shù)測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀