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ParcanNano 高速原子力顯微鏡AFM系統(德國Nano analytik)

簡介：

公司以全球****的針尖技術為核心競爭力，技術源自于德國伊爾默瑙工業大學，致力于主動式針尖技術在微納米結構制備和表征方面的研發，及其相關設備的產業化。

NanoMETRONOM是公司開發的一款顛覆性的新型AFM系統。它使用主動式智能針尖，集傳感器、驅動器和可功能化的針尖于一身，實現自激發和自傳感，無需復雜的激光校準，是取代現有AFM激光傳感的巨大改進。該系統可在大氣、液態及真空環境下實現對微納米結構的高速、高效表征，成像精度達到0.2納米的極限精度。

產品擁有像美國麻省理工學院、加州伯克利國家實驗室、荷蘭德爾夫特大學和清華大學等國內外知名科研客戶，以及韓國三星、荷蘭ASML等高端工業客戶。

產品特點：

? 大氣、真空及液態環境兼容

? 自激發自傳感智能針尖

? 快速自動進針 無需激光調節

? 操作極其便捷 5秒快速換針

? 超高速掃描成像（100 lines/s）

? 實時光學顯微鏡定位掃描區域

應用領域：

? 多領域表面分析

? 工業領域快速抽檢

? 晶圓片表面質量監控

? 弱機械力檢測

? 質量傳感器

? 生化檢測識別