粉體行業在線展覽
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南京伯奢詠懷電子科技有限公司
韓國
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719
飛行時間法（TOF）測量是表征有機半導體材料載流子遷移率的關鍵，T3000飛行時間測量系統基于
脈沖激光和高速測量電子學進行標準飛行時間實驗;有助于載流子遷移率隨溫度變化的研究.
- 有機半導體中的載流子輸運
- 電子/空穴遷移率的測量
- 飛行時間法測量(TOF)
- Dark Injection Transient (DIT)
- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)
- 低溫測量
熱絲CVD金剛石膜沉積設備HF450
XRD-晶向定位
CVD 真空化學氣相沉積設備
等離子體增強化學氣相沉積系統CVD
BTF-1200C-RTP-CVD
自動劃片機
FM-W-PDS
Gasboard-2060
等離子化學氣相沉積系統-PECVD
Pentagon Qlll
定制-電漿輔助化學氣相沉積系統-詳情15345079037
